专利名称：微波半导体器件多参数测试仪专利类型：外观专利
申请号：CN201930402569.4申请日：20190726公开号：CN305559126S公开日：20200117
专利附图：
申请人：中电科仪器仪表有限公司
地址：266555 山东省青岛市经济技术开发区香江路98号
国籍：CN
代理机构：济南圣达知识产权代理有限公司
代理人：董雪
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